长工微电子 Innovision Product Reliability Report

PublishTime：2025-04-28

本报告由长工微电子（Innovision Semiconductor Inc.）提供，针对ISM6636X产品进行了可靠性测试。报告详细介绍了产品的高温存储寿命（HTST）、湿度敏感测试（Precondition test）、温度循环测试（TCT）、加速湿度阻尼无偏压力锅测试（AC test）、稳态温度湿度偏置寿命测试（UHAST）、高温工作寿命测试（HTOL）、静电放电测试（ESD Test）、闩锁测试（Latch-Up Test）以及高度加速温度和湿度应力测试（HAST）等测试项目及其目的、条件、通过标准等信息。报告还展示了可靠性测试实验室的设施和设备。

Brand of Product：	Innovision Semiconductor
Part#：	ISM6636X More Part#
Product Category：	电子元器件 More
Application：	[ 可靠性测试 ] More
Data Type：	Test Report More
Safety & Environment Standards：	More
Operating Temperature：	Please see the document for details
Qualification Grade：	More
Qualification Approval：	More
Package：	Module-LGA3.3x3.3-17
Language：	English Chinese Chinese and English Japanese
Date of Creation：	2025/04/20
Version Number：
Data Encoding：
Data Size：	734 KB

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